مشاهده مشخصات مقاله
یک روش جدید در تولید تجربه آزمون مدارهای منطقی بوسیله الگوریتم ژنتیک
|
نویسنده (ها) |
-
مازیار پالهنگ
-
پیروز شمسی نژاد بابکی
|
|
مربوط به کنفرانس |
دوازدهمین کنفرانس بین‌المللی سالانه انجمن کامپیوتر ایران |
|
چکیده |
با توجه به اهمیت آزمون در مدارهای منطقی تا کنون روش‌های زیادی برای تولید یک تجربه آزمون با حداکثر پوشش خرابی ارائه شده است. در این مقاله یک روش جدید برای تولید الگوی آزمون مدارهای منطقی ترکیبی ارائه می‌شود که مبتنی بر شبیه‌سازی خرابی می‌باشد. روش جدید از یک الگوریتم ژنتیک برای یافتن بردارهای آزمون با قدرت تشخیص خرابی بالا استفاده می‌کند. سپس با استفاده از یک روش جدید دیگر از میان بردارهای آزمون حاصل از مرحله قبل یک تجربه آزمون را استخراج می‌کند. برتری این روش بر روش تولید تجربه تصادفی دستیابی به تضمین بالایی از صحت کار مدار و نسبت به روش‌های حساس‌سازی مسیر مانند الگوریتم D مرتبه پایین‌تر الگوریتم آن می‌باشد. روش ارائه شده بر روی چندین مدار اعمال شده است و مقایسه نتایج با روش تولید تصادفی تجربه‌های آزمون در مقاله آورده شده است.
|
|
قیمت |
-
برای اعضای سایت : ۱٠٠,٠٠٠ ریال
-
برای دانشجویان عضو انجمن : ۲٠,٠٠٠ ریال
-
برای اعضای عادی انجمن : ۴٠,٠٠٠ ریال
|
خرید مقاله
|
|
.gif){kind=icon}