مشاهده مشخصات مقاله
ارزیابی قابلیت اطمینان ساخت مدارهای دیجیتال مبتنی بر ترانزیستورهای نانولوله کربنی
|
نویسنده (ها) |
|
|
مربوط به کنفرانس |
هجدهمین کنفرانس ملی سالانه انجمن کامپیوتر ایران |
|
چکیده |
تکنولوژي مبتني برنانو لوله‌هاي کربنييکي از پراميدترين کانديداي جايگزين تکنولوژي CMOS مي‌باشد.در اين تکنولوژي، رشد نانولوله‌هاي کربني مبتني بر سنتز شيميايي مي‌باشد که اين مورد باعث تغييرات زيادي در پارامترهاي فيزيکي نانولوله‌هاي کربني مي‌شود. تغييرات در تراکم و خواص نيمه‌هادي بودن نانولوله‌ها، منجر به بالا رفتن نرخ اشکال در مدارهای مبتني بر نانولوله‌هاي کربني شده است. در نتيجه قابليت اطمينان مدارهای مبتني بر نانولوله‌هاي کربني به شدت تحت تاثير قرار گرفته است. در اين مقاله، قصد داریم قابليت اطمينان مدارهاي منطقي را ضمن در نظر گرفتن عوامل بروز اشکال در ترانزيستورهاي مبتني بر نانولوله‌کربني ارزيابي نماییم. در ابتدا، به منظور ارزيابي قابليت اطمينان مدار، يک مدل قابليت اطمينان برای گيتهای مبتنی بر نانولوله‌های کربنی ارائه مي‌شود. مدل ارائه شده قادر به تخمين قابليت اطمينان گيت‌هاي مختلف با در نظرگرفتن ساختار گيت، احتمال سيگنال‌هاي ورودي، احتمال اشکال ترانزيستورهاي نانولوله کربني و بردار ورودي گيت مي‌باشد. سپس، با استفاده از اين مدل، قابليت اطمينان مدار ارزيابي مي‌شود. نتایج شبیه سازی نشان میدهد که روش پیشنهادی در مقایسه با مونت کارلو، با سرعت X800 و با خطایی کمتر از %4، قابلیت اطمینا ن مدار را ارزیابی می‌کند. همچنین نتایج نشان میدهند که در نظر گرفتن نوع اشکال ترانزیستورهای مبتنی بر نانولوله‌های کربنی در ارزیابی قابلیت اطمینان بسیار مهم می‌باشد. |
|
قیمت |
-
برای اعضای سایت : ۱٠٠,٠٠٠ ریال
-
برای دانشجویان عضو انجمن : ۲٠,٠٠٠ ریال
-
برای اعضای عادی انجمن : ۴٠,٠٠٠ ریال
|
خرید مقاله
|
|
.gif){kind=icon}