انجمن کامپیوتر ایران

در نظر گرفتن ملاحضات آزمون پذيري در طي مراحل سنتز رفتاري، موجب کاهش سربار آزمون، کاهش هزينه هاي آزمون و نيز افزايش کيفيت آزمون پذيري مدار نهايي مي شود. ايده اصلي اين مقاله، بهبود بخشيدن آزمون پذيري مدارهاي سنتز شده، با استفاده از ترکيب الگوريتم ژنتيک و الگوريتم هم تکاملي، در فرآيند سنتز رفتاري است. نتايج حاصل از آزمايش ها نشان مي دهد که روش ارائه شده سبب افزايش پوشش خطا در مرحله آزمون خواهد شد، بي آن که تاثير منفي چنداني بر مساحت و تاخير مدار نهايي داشته باشد.