انجمن کامپیوتر ایران

مسأله تست مدارهای دیجیتال و آزمایش صحت کارکرد آنها خصوصا در مدارهای مجتمع با اندازه بسیار وسیع (VLSI) از اهمیت بسیاری برخوردار است. در این مقاله طول تست مربوط به نمونه‌های ضد تصادفی برای N بار تشخیص اشکالات موجود در مدارهای VLSI تحلیل گردیده و با کمک تکنولوژی خود آزمایشی داخلی(BIST) مورد ارزیابی و اندازه‌گیری قرار‌گرفته است. سپس این شیوه تست روی مدار سنجش ISCAS85 C432 شبیه‌سازی شده و نتایج آن با محاسبات انجام گرفته مقایسه شده است.