مشاهده مشخصات مقاله
Dynamic Strength Scaling for Delay Fault Propagation in Nanometer Technologies
|
نویسنده (ها) |
-
Reza Javaheri
-
Reza Sedaghat
|
|
مربوط به کنفرانس |
چهاردهمین کنفرانس بینالمللی سالانه انجمن کامپیوتر ایران |
|
چکیده |
This paper proposes an algorithm for the detection
of resistive delay faults in deep submicron technology
using dynamic strength scaling, which is applicable for
45 nm and below. The approach uses an advanced
coding system to build logical functions that are
sensitive to strength and able to detect even the
slightest voltage changes in the circuit. Such changes
are caused by interconnection resistive behavior and
result in timing-related defects. |
|
قیمت |
-
برای اعضای سایت : ۱٠٠,٠٠٠ ریال
-
برای دانشجویان عضو انجمن : ۲٠,٠٠٠ ریال
-
برای اعضای عادی انجمن : ۴٠,٠٠٠ ریال
|
خرید مقاله
|
|
.gif){kind=icon}