انجمن کامپیوتر ایران

دراین مقاله اثرات تزریق خطا در سه ریزپردازنده 8085 ، Z80 و MC6809 مورد ارزیابی قرار گرفته است. برای رسیدن به این هدف روش‌های کشف خطا در هریک از ریزپردازنده‌ها پیاده‌سازی شده واز روش اغتشاش در منبع تغذیه جهت تزریق خطا استفاده شده‌است. پارامتر بررسی اثرات خطا، میزان پوشش کشف خطا، تأخیر آنها و سربار حافظه است. روش استفاده شده جهت کشف خطا، روش زمان- زمان- نشانی (Time-Time-Address) است که شامل پنج مکانیزم کشف اشکال است که هر یک از آنها می تواند نوع خاصی از اشکال‌های روند کنترل را کشف نمایند. در هر سه ریزپردازنده این پنج مکانیزم در قالب یک پردازنده‌‌ی مراقب طراحی شده است که برای پیاده‌سازی آن از یک FPGA و نرم افزارهای شبیه‌ساز آن استفاده گردیده‌است. نتایج حاصل از آزمایشات نشان داده‌است که میانگین پوشش کلی کشف اشکال مکانیزم‌ها در سه ریزپردازنده حدود 90% است. مقایسه نتایج این آزمایشات نشان می دهد هرچند تفاوت‌هایی درنتایج یک مکانیزم بین سه ریزپردازنده وجود داشته است اما در جمع پنج مکانیزم، میزان پوشش کشف اشکال اختلاف ناچیزی داشته است که بیانگراین است که روش زمان- زمان- نشانی، مستقل از نوع ریزپردازنده پوشش کشف بالایی داشته است.

در این مقاله، تکنیک جدیدی برای طراحی S-box ها با استفاده از الگوریتم‌های ژنتیک شرح داده می‌شود. هدف ما طراحیS-box هایی است که معیارهای غیرخطی بودن، بهمنی اکید، متوازن بودن و معیار انتشار را بر آورده کنند و ضمناً جدول توزیع تفاضلات آنها هموار باشد. تکنیک‌های جدید مطرح شده بر پایه نتایجی که در [1] به دست آمده، ارائه شده است. در [1]، یک تولیدکننده‌ی تصادفی، S-box های کاندید را تولید می کند و زمان زیادی برای تولیدS-box ها هزینه می شود. در تکنیک جدید ارائه شده، از الگوریتم‌های ژنتیک برای تولید S-box استفاده شده است و در زمان بسیار کمتری نسبت به [1] S-box های مطلوبی تولید می شود و این تکنیک با استفاده از زبانC++ پیاده سازی شده و نتایج به دست آمده در مقاله ارائه شده است.