انجمن کامپیوتر ایران

مسأله تست مدارهای دیجیتال و آزمایش صحت کارکرد آنها خصوصا در مدارهای مجتمع با اندازه بسیار وسیع (VLSI) از اهمیت بسیاری برخوردار است. در این مقاله طول تست مربوط به نمونه‌های ضد تصادفی برای N بار تشخیص اشکالات موجود در مدارهای VLSI تحلیل گردیده و با کمک تکنولوژی خود آزمایشی داخلی(BIST) مورد ارزیابی و اندازه‌گیری قرار‌گرفته است. سپس این شیوه تست روی مدار سنجش ISCAS85 C432 شبیه‌سازی شده و نتایج آن با محاسبات انجام گرفته مقایسه شده است.

این مقاله به معرفی یک الگوریتم جدید ردگیری شکل بر مبنای خصیصه تولید شده برای پیکسل با استفاده از موجک بسته‌ای تلف نشده می‌پردازیم. در روش پیشنهاد شده برای ردگیری یک شکل تعریف شده توسط کاربر در یک رشته از تصاویر، دامنه ضرایب مبنای بهینه در بسط درختی سیگنال با استفاده از موجک تلف نشده به عنوان بردار‌های خصیصه )FV( پیکسل به کار رفته است. الگوریتم پیشنهادی از بردار‌های خصیصه برای ردگیری پیکسل‌های بلوک‌های مربعی نزدیک مرزهای شکل استفاده می‌کند. جستجو برای یافتن بهترین تطبیق یک بلوک مربعی با استفاده از جستجوی کامل بلوک در حوزه‌ی موجک انجام می‌شود پس یافتن محل جدید شکل در قاب جاری، این قاب به عنوان مرجع برای یافتن شکل شیدر قاب مورد استفاده قرار می‌گیرد.نتایج آزمایش‌ها نشان می‌دهد که الگوریتم در شرایطی که شکل یک شی دارای جابه جایی، چرخش یا تغییر مقیاس جزیی باشد به خوبی عمل می‌کند و می‌تواند برای ردگیری اشکال صلب و غیر صلب در رشته‌های تصویر و ویدئو به کارگرفته شود.