مشاهده مشخصات مقاله
بررسی و بهبود قابلیت اطمینان فلیپفلاپهای پالسدار با در نظر گرفتن تغییرات فرآیند ساخت و تغییرات حین کارکرد
|
Authors |
-
رضا محمودی
-
محسن راجی
-
بهنام قوامی
-
شعیب رحیمی
|
|
Conference |
بیست و سومین کنفرانس ملی سالانه انجمن کامپیوتر ایران |
|
Abstract |
فلیپفلاپهای پالسدار از مهمترین اجزای مدارهای دیجیتال با کارآیی بالا به شمار میروند که عملکرد نادرست آنها باعث کاهش قابلیت اطمینان این مدارهای پرکاربرد در عرصه صنعت خواهد شد. با پيشرفت تكنولوژی ساخت مدارهای مجتمع انواع تغییرات اعم از تغییرات ناشی از فرآیند ساخت و تغییرات حین کارکرد (به طور مشخص ناپایداری حاصل از بایاس و دما (BiasTemperature Instability)) موجب شده تا نرخ خرابی در مدارهای دیجیتال افزایش یافته و در نتیجه، قابلیت اطمینان این مدارها کاهش یابد. در این مقاله، با استفاده از آزمایشهای گسترده مونت کارلو و نرم افزار شبیه‌ساز HSPICE، قابلیت اطمینان چندین فلیپ‌فلاپ پالسدار با در نظر گرفتن اثرات تغییرات ساخت و تغییرات حین کارکرد مورد بررسی قرار گرفته‌است. به منظور بهبود قابلیت اطمینان این فلیپفلاپها، از تکنیک تخصیص ولتاژ آستانه دوگانه استفاده شده‌است. به این ترتیب که پس از تحلیلهای انجام شده به منظور تشخیص ترانزیستورهای حساس به تغییرات، به این ترانزیستورها ولتاژ آستانه پایین تخصیص داده می شود و به این صورت، با کاهش تاخیر این دسته از ترانزیستورها، قابلیت اطمینان کلی این فلیپفلاپها در برابر انواع تغییرپذیریها افزایش پیدا میکنند. نتایج به دست آمده نشان میدهند که با اعمال این تکنیک، در ازای %8.8 سربار در توان‌نشتی، قابلیت اطمینان این فلیپفلاپها بعد از گذشت 3 سال به طور میانگین تا %40 بهبود داده میشود. |
|
قیمت |
-
برای اعضای سایت : 100,000 Rial
-
برای دانشجویان عضو انجمن : 20,000 Rial
-
برای اعضای عادی انجمن : 40,000 Rial
|
خرید مقاله
|
|
.gif){kind=icon}